Test Compaction of Logic Blocks by using Fault Identification Method

نویسندگان
چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Compaction-based test generation using state and fault information

We present a new test generation procedure for sequential circuits using newly traversed state and newly defectedfault inforination obtained between successive iterations of vector compaction. Two types of techniques are considered. One is based on which new states a sequential circuit is driven into, and the other is based on the new faults that are detected in the circuit between consecutive ...

متن کامل

Crosstalk Glitch Fault ATPG with Test Compaction

This work proposes a TPG method for producing maximal crosstalk glitch effect on victim net. Thereafter, the test set is compacted using different implementations of fault-list chaining algorithm.

متن کامل

UAV attitude Sensor Fault Detection Based On Fuzzy Logic and by Neural Network Model Identification

Fault detection has always been important in aviation systems to prevent many accidents. This process is possible in different ways. In this paper, we first identify the longitudinal axis plane model using neural network approach. Then based on the obtained model and using fuzzy logic, the aircraft status sensor fault detection unit was designed. The simulation results show that the fault detec...

متن کامل

buckling of viscoelastic composite plates using the finite strip method

در سال های اخیر، تقاضای استفاده از تئوری خطی ویسکوالاستیسیته بیشتر شده است. با افزایش استفاده از کامپوزیت های پیشرفته در صنایع هوایی و همچنین استفاده روزافزون از مواد پلیمری، اهمیت روش های دقیق طراحی و تحلیل چنین ساختارهایی بیشتر شده است. این مواد جدید از خودشان رفتارهای مکانیکی ارائه می دهند که با تئوری های الاستیسیته و ویسکوزیته، نمی توان آن ها را توصیف کرد. این مواد، خواص ویسکوالاستیک دارند....

Impact of Functional Delay Test Compaction on Transition Fault Coverage

Compact test sets are very important for degrading the cost of testing the very large-scale integrated circuits by reducing the test application time. Small test sets also lessen the test storage requirements. The only way to compact functional delay fault tests is to enable multi-input transitions in test pattern pairs. The goal of the paper is to analyze the impact of multi-input transitions ...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: IJARCCE

سال: 2015

ISSN: 2278-1021

DOI: 10.17148/ijarcce.2015.4391